治具选型

本文深度解析芯片测试板与探针卡的核心设计原理，提供测试治具选型的关键指标与验证流程。涵盖信号完整性、热管理及可靠性评估标准，助力企业优化测试方案，降低量产风险，提升半导体测试效率与精度。适用于测试工程师及采购人员参考，确保测试硬件稳定可靠。